SPM-8000FM 高感度掃描型探針顯微鏡2
HR-SPM為採用FM頻率調變檢出方式的新世代掃描型探針顯微鏡。過去的SPM(掃描型探針顯微鏡)/AFM(原子力顯微鏡)一般為AM(震幅調變)的方式， FM(頻率調變)方式原理上為高感度測定法，可以更高分解能成像。不僅可以超高分解能觀察大氣中以及液體中的樣品，也可觀察在固液界面的水合、溶合作用。
相關產品
-
ED-7000 X射線分析儀
僅460mm幅寬之精練外觀設計，將以往機種幅寬削減20%。雖採用微型設計，但卻擁有大型試樣箱，最大採樣尺寸可達300(W)×275(D)×約100(H)mm。高清晰度LED顯示燈當X射線發生時，裝置背面之X射線顯示燈與正面X-RAYS ON燈點亮。分析時，X射線顯示燈兩側會發出藍色燈光，即便遠離裝置亦可立即確認工作狀態。
-
ED-7000 X射線分析儀2
460mm幅寬之精練設計,擁有大型試樣箱 僅460mm幅寬之精練外觀設計，將以往機種幅寬削減20%。雖採用微型設計，但卻擁有大型試樣箱，最大採樣尺寸可達300(W)×275(D)×約100(H)mm。高清晰度LED顯示燈當X射線發生時，裝置背面之X射線顯示燈與正面X-RAYS ON燈點亮。分析時，X射線顯示燈兩側會發出藍色燈光，即便遠離裝置亦可立即確認工作狀態。
-
ED-XRF Rohs專用
能量色散X射線螢光光譜儀使用X射線照射樣品，測量所產生的螢光X射線的能量（波長）和強度，以確定樣品中元素組成的種類和含量。由於X射線螢光光譜法能以非破壞性分析固體、粉末、液體樣品，也可快速且不具破壞性的測試印刷電路板和其他電子設備中有害元素，因而被廣泛用於全球的電子電氣和汽車製造企業，應用於符合歐盟RoHS/ ELV指令的檢查和品質控制。
