博高科儀股份有限公司

ED-XRF Rohs專用

能量色散X射線螢光光譜儀使用X射線照射樣品,測量所產生的螢光X射線的能量(波長)和強度,以確定樣品中元素組成的種類和含量。由於X射線螢光光譜法能以非破壞性分析固體、粉末、液體樣品,也可快速且不具破壞性的測試印刷電路板和其他電子設備中有害元素,因而被廣泛用於全球的電子電氣和汽車製造企業,應用於符合歐盟RoHS/ ELV指令的檢查和品質控制。

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