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磁性非磁性膜厚計

磁性非磁性膜厚計 Surfix SX basic

介紹



德國 PHYNIX磁性非磁性膜厚計 Surfix SX basic






優點● 正港德國製造,機身印有MADE IN GERMANY● 主機皆附橡膠防撞護套,保護主機● 薄膜式按鍵,防潑水● FN 型用於鐵/鋼以及有色金屬測量● FN型自動識別基材● 可拆換式的高硬度耐磨探頭● 統計功能(量測次數、平均值、標準差、最大值、最小值)● 【可選購】外接多種原廠探頭,擴充性強● 【可選購】高溫接觸頭最高可達150°C● 11國語文操作,可任意切換。(內含繁體中文)● 出廠校準可追朔至德國PTB校正報告● 符合DIN ISO 9001規範 主機規格螢幕:高分辨率「彩色螢幕」44×33mm校正功能:零點校正,標準片校正,刪除校正(恢復原廠校正)統計功能:顯示統計數據,清除統計數據測量方法:FN自動辨識操作溫度:0 °C 至 + 60 °C語言介面:英語、德語、法語、土耳其語其他設定:測量單位,公英制切換關機模式:90秒後自動關機,持續開機電源設定:(鹼性)電池 或 充電電池 模式標準:DIN、ISO、ASTM、BS主機尺寸:140×73×27mm (包括 橡膠防撞保護套)重量:205g(包括FN探頭1.5和電池) 





 







三種標準探頭 - 任選其一




參考圖片





探頭型號


FN 1.5(兩用)


F 1.5(磁性)


N 1.5(渦流)




量測範圍


0 - 1,500 µm (FN)


0 - 1,500 µm (F)


0 - 1,500 µm (N)




精度


歸零校準:±1μm+讀值2%標準片校準:±1μm+讀值1%


歸零校準:±1μm+讀值2%標準片校準:±1μm+讀值1%


歸零校準:±1μm+讀值2%標準片校準:±1μm+讀值1%




最小單位


0~499.9μm   解析度0.1μm500~1500μm   解析度1μm


0~499.9μm   解析度0.1μm500~1500μm   解析度1μm


0~499.9μm   解析度0.1μm500~1500μm   解析度1μm




使用溫度


0 °C to 60 °C


0 °C to 60 °C


0 °C to 60 °C




測量區域


5 × 5mm2


5 × 5mm2


5 × 5mm2




尺寸


Ø 14 mm × 83 mm


Ø 14 mm × 83 mm


Ø 14 mm × 83 mm




 







【選購】高溫接觸頭




圖片





型號


10098




量測範圍


0 - 1,500 µm




精度


±1µm + 讀值2%




使用溫度


-15 °C to + 150 °C




接觸時間


最長2秒




尺寸


Ø 19 mm × 12 mm




 







【選購】探頭




圖片









探頭型號


FN 1.5R


FN 1.5/90°


FN 3.5


F 10


F 30




F 1.5R


F3.5




量測範圍


0-1,500 µm (FN and F)


0 - 1,500 µm (FN)


0 - 3,500 µm (FN and F)0 - 3,000 µm (N)


0 - 10 mm (F)


0 - 30 mm (F)




精度


歸零校準:±1μm+讀值2%標準片校準:±1μm+讀值1%


歸零校準:±1μm+讀值2%標準片校準:±1μm+讀值1%


歸零校準:±2μm+讀值2%標準片校準:±2μm+讀值1%


歸零校準:±5μm+讀值2%標準片校準:±3μm+讀值1%


歸零校準:±10μm+讀值4%標準片校準:±10μm+讀值2%




使用溫度


0 °C to 60 °C


0 °C to 60 °C


0 °C to 60 °C


0 °C to 60 °C


0 °C to 60 °C




尺寸


Ø 16 × 24 × 62 mm


8 × 11 × 170 mm


Ø 25 × 47 mm


Ø 25 × 47 mm


Ø 75 × 55 mm




 







【選購】測量台




圖片





型號


10026




探頭安裝孔


Φ14mm




最大高度調節


100mm




測量台座


120×160×20mm




重量


約2.4Kg