德國 PHYNIX磁性非磁性膜厚計 Surfix SX
優點● 正港德國製造，機身印有MADE IN GERMANY● 主機皆附橡膠防撞護套，保護主機● 薄膜式按鍵，防潑水● FN 型用於鐵/鋼以及有色金屬測量● FN型自動識別基材● 可拆換式的高硬度耐磨探頭● 統計功能（量測次數、平均值、標準差、最大值、最小值、變異係數）● 【可選購】外接多種原廠探頭，擴充性強● 【可選購】高溫接觸頭最高可達300°C● 可至原廠下載軟體，將數據傳輸到PC● 11國語文操作，可任意切換。（內含繁體中文）● 出廠校準可追朔至德國PTB校正報告● 符合DIN ISO 9001規範 主機規格螢幕：高分辨率「彩色螢幕」44×33mm校正功能：零點校正，標準片校正，刪除校正（恢復原廠校正）統計功能：統計數據傳輸，統計及讀數傳輸，顯示統計數據， 顯示測量數據，清除測量及統計數據測量方法：FN自動辨識，邊界值(上下限)，零點偏移記憶體：2000讀數資料傳輸：USB2.0（可至原廠下載軟體）操作溫度：0 °C 至 + 60 °C語言介面：11國語文操作（內含繁體中文）其他設定：蜂鳴器設定，測量單位，日期時間，公英制切換關機模式：90秒後自動關機，持續開機電源設定：(鹼性)電池 或 充電電池 模式標準：DIN、ISO、ASTM、BS主機尺寸：140×73×27mm （包括 橡膠防撞保護套）重量：205g（包括FN探頭1.5和電池） 軟體下載：Data transfer software PHYNIX.connect驅動程式：USB driver software for Surfix Pro X, Surfix SX/EX
三種標準探頭 - 任選其一
參考圖片
探頭型號
FN 1.5（兩用）
F 1.5（磁性）
N 1.5（渦流）
量測範圍
0 - 1,500 µm (FN)
0 - 1,500 µm (F)
0 - 1,500 µm (N)
精度
歸零校準：±1μm+讀值2%標準片校準：±1μm+讀值1%
歸零校準：±1μm+讀值2%標準片校準：±1μm+讀值1%
歸零校準：±1μm+讀值2%標準片校準：±1μm+讀值1%
最小單位
0~499.9μm 解析度0.1μm500~1500μm 解析度1μm
0~499.9μm 解析度0.1μm500~1500μm 解析度1μm
0~499.9μm 解析度0.1μm500~1500μm 解析度1μm
使用溫度
0 °C to 60 °C
0 °C to 60 °C
0 °C to 60 °C
測量區域
5 × 5mm2
5 × 5mm2
5 × 5mm2
尺寸
Ø 14 mm × 83 mm
Ø 14 mm × 83 mm
Ø 14 mm × 83 mm
【選購】高溫接觸頭
圖片
型號
10098
10844
量測範圍
0 - 1,500 µm
0 - 1,000 µm
精度
±1µm + 讀值2%
±10µm + 讀值2%
使用溫度
-15 °C to + 150 °C
-15 °C to + 300 °C
接觸時間
最長2秒
最長2秒
尺寸
Ø 19 mm × 12 mm
Ø 19 mm × 10 mm
【選購】探頭
圖片
探頭型號
FN 1.5R
FN 1.5/90°
FN 3.5
F 10
F 30
F 1.5R
F3.5
量測範圍
0-1,500 µm (FN and F)
0 - 1,500 µm (FN)
0 - 3,500 µm (FN and F)0 - 3,000 µm (N)
0 - 10 mm (F)
0 - 30 mm (F)
精度
歸零校準：±1μm+讀值2%標準片校準：±1μm+讀值1%
歸零校準：±1μm+讀值2%標準片校準：±1μm+讀值1%
歸零校準：±2μm+讀值2%標準片校準：±2μm+讀值1%
歸零校準：±5μm+讀值2%標準片校準：±3μm+讀值1%
歸零校準：±10μm+讀值4%標準片校準：±10μm+讀值2%
使用溫度
0 °C to 60 °C
0 °C to 60 °C
0 °C to 60 °C
0 °C to 60 °C
0 °C to 60 °C
尺寸
Ø 16 × 24 × 62 mm
8 × 11 × 170 mm
Ø 25 × 47 mm
Ø 25 × 47 mm
Ø 75 × 55 mm
【選購】測量台
圖片
型號
10026
探頭安裝孔
Φ14mm
最大高度調節
100mm
測量台座
120×160×20mm
重量
約2.4Kg