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磁性非磁性膜厚計

磁性非磁性膜厚計 QNix4500_QNix4200

介紹



磁性非磁性膜厚計 QNix4500 / QNix4200



  
產品特色:測量前素材歸零即可,測頭永久免校正磁性 (Fe)、非磁性 (NFe) 二合一測頭單體式設計、單顆按鍵、單手即可操作接觸表面瞬間完成測量,測完發出嗶聲測量時自動切換適當單位 (Auto-range)V 型凹槽設計,可測量圓管或不平表面堅固造型設計,適合嚴苛作業現場使用電池足供數千次測量、具自動關機功能德國原裝進口 (Automation 牌)QNix 4200P測量範圍:Fe:0~3000 μmQNix 4500P測量範圍:Fe:0~3000 μm;NFe:0~3000 μm最小單位:0~99.9μm 解析度0.1 μm                 100~999μm解析度1μm                 ≧1mm解析度0.01mm精確度:±2μm+讀值3%適用底材:Fe:磁性底材、鋼、鐵                 NFe:非磁性底材、鋁、鋅、銅、黃銅螢幕背光:藍色背光底材厚度:Fe:0.2mm min.                 NFe:0.05mm min.