美國phase II 磁性非磁性膜厚計 PTG-3550
美國PHASE 2菲思圖PTG-3550磁性非磁性膜厚計可以利用渦流和電磁感應兩種不同的方法進行厚度測量。 用此先進的厚度測量儀，利用其一個內置探頭(PTG-3500)或我們提供的一個自動探測的外接探頭(PTG-3550)，您可以方便的測量磁性基體(金屬)上非磁性塗層的厚度或非磁性導電基體(非金屬)上非導電塗層的厚度。 美國PHASE 2菲思圖PTG-3550可被用於很多行業領域包括製造業，通用機械工業，商檢等。 規格：四按鍵操作，操作簡單易懂。單一測頭自動辨識底材，自動切換測量模式。測量範圍：0~1250µm解析度：0.1µm(0~99µm)或1µm(大於100µm)精確度：±1um+3%讀值顯示幕：4位數字顯示，有背光最小測量範圍：5x5mm最小曲率半徑：3mm凹深：30mm最小基體厚度：金屬：0.5mm 非金屬：0.05mm校準：零點校準、膜片校準電源：4節AA電池外形尺寸：161x69x32mm重量：260g