最新一代奈米級紅外線光譜儀，最高解析尺度達10nm。nanoIR2-FS所量測之紅外線圖譜與穿透式FTIR光譜直接相關，將紅外線光譜於材料分析領域拓展至嶄新的層次。 - 高速、高解析度之AFM-IR圖譜，只需數秒的時間即可完成光譜掃描 - 最高10nm光譜影像解析度 - AFM-IR圖譜等同FTIR光譜，可直接進行比對分析 - 完整的AFM掃描功能，表面型態與化學組成同時解析 - 搭配ThermaLeverTM 探針，可量測玻璃轉移溫度、熔點…等性質，將材料的熱分析提升至奈米級尺度。 產品功能： 應用：
